ICT测试盲点问题

不可测零件或不稳定测试程序

〔电容〕：

1. 小电容并联大电容：C1＝1nf ， C2＝1uf　（相差10倍以上），

　　　　　　　　　　 C1《《 C2 ， C1无法准确测量。

     2. 电容并联电感：需用交流电信号以相位分离法检测，但有误差，不易测出。

  (电容并联小电阻) ：

1. 小电容300PF：标准值易偏高，较受旁路干扰，标准值易变更、不稳。

2. 电容极性装反：（他牌之可测率约30～50%，视线路特性而定）,ADSYS ECJ技术检测,无误漏判。

〔电阻〕：

1. 电阻并联电容：因为电容之充放电效应,测量值轿标准值偏低，延迟时间不可超过500 M Sec 重复测试不可超过5次，测试较不稳。

2. 电阻并联电阻：测量值Rx＝R1*R2／(R1+R2)＝须修改标准值，并联电阻若有误差值，不易测试出。

3. 电阻并联电感：在直流信号源下是近似短路，所以无法被准确测出。

4. 电阻并联跳线：所有的电流皆流经跳线，所以电阻无法被测出。

5. 小电阻并联大电阻：大电阻无法量测。（相差20倍以上）

〔二极管〕：

1. 二极管与电感并联：二极管无法准确测量。

2. 二极管与跳线或保险丝并联：二极管无法准确测量。

3. 齐纳二极管( Zener Diode )：量测电压为它的崩溃电压，超过系统量测范围。(他牌未加高压测试电路板的机型为10V）

4. 二极管并联二极管：无法测量,ADSYS可以用DR Mode测试,可以准确量测。

〔其它〕：

1. 振荡器(XTAL)功能是否正常。（振荡器是以小电容方式作量测,4MHz以下可以量测漏件）

2. IC之保护二极管并联本身或其它IC之保护二极管，致IC脚空焊或折脚无法量测。

3. 单端点之线路断线无法测试。